MULTI-LEVEL TESTING OF COMPLEX ASSEMBLIESSERENE R.1981; INSUL., CIRCUITS; ISSN 0020-4544; USA; DA. 1981; VOL. 27; NO 18; PP. 30-32Article

REPORT: TESTEN ALS DIENSTLEISTUNG = ESSAIS SOUS FORME DE PRESTATION DE SERVICESHASCHER W.1981; ELEKTRONIK (MUENCH.); ISSN 0013-5658; DEU; DA. 1981; VOL. 30; NO 5; PP. 69-76; BIBL. 3 REF.Article

TRENDS IM BEREICH TESTSYSTEME = ORIENTATION DANS LE DOMAINE DES SYSTEMES D'ESSAIRIEDEL H.1980; UND-ODER-NOR STEUER.-TECH.; DEU; DA. 1980; NO 9; PP. 22Article

BUILD A DIGITAL IC IDENTIFIER/TESTER.SAVAGE ER.1977; RADIO ELECTRON.; U.S.A.; DA. 1977; VOL. 48; NO 6; PP. 44-46Article

BUILD THIS LOGIC PROBE FOR DOLLAR1.BURR AF.1977; RADIO ELECTRON.; U.S.A.; DA. 1977; VOL. 48; NO 8; PP. 40-41Article

DIPS VERIFY STROBE WITHIN TIME WINDOW.DOUGHERTY RA.1976; ELECTRONICS; U.S.A.; DA. 1976; VOL. 49; NO 3; PP. 102Article

WEIGHING THE REAL COST OF A BOARD TESTER. = POIDS DU COUT REEL D'UN APPAREIL D'ESSAIS POUR LES PLAQUES DE CIRCUITS IMPRIMESANDERSON RE.1975; ELECTRONICS; U.S.A.; DA. 1975; VOL. 48; NO 24; PP. 91-96Article

AUTOMATED TESTING PAYS OFF FOR ELECTRONIC SYSTEM MAKERS.GROSSMAN S.1974; ELECTRONICS; U.S.A.; DA. 1974; VOL. 47; NO 19; PP. 95-109Article

L'APPAREIL D'ESSAIS DE MODEMS DMX-1LUTZ HP.1972; P.T.T. BULL. TECH.; SUISSE; DA. 1972; VOL. 50; NO 9; PP. 399-404; ABS. ITAL; MEME ART. FRSerial Issue

FIELD-SERVICE TESTERS SHARPEN ON-SITE SKILLSMCLEOD J.1980; ELECTRON. DES.; ISSN 0013-4872; USA; DA. 1980; VOL. 28; NO 21; PP. 109-118; 9 P.Article

LES NOUVELLES GENERATIONS DE TESTEURS POUR TELECOMMUNICATIONS NUMERIQUES: LE DEVELOPPEMENT DU NUMERIQUE EN TELECOMMUNICATIONS EST A L'ORIGINE DE NOUVEAUX APPAREILS SOPHISTIQUES DE MESURES. VOICI LES CARACTERISTIQUES QUI DETERMINERONT VOTRE CHOIXSCHWARTZ P.1979; ELECTRON. APPL. INDUSTR.; FRA; DA. 1979; NO 264; PP. 27-33Article

PROGRAMMABLE INTERFACE DRIVERS SIMPLIFY LOGIC TESTING.KAN DT.1976; COMPUTER DESIGN; U.S.A.; DA. 1976; VOL. 15; NO 7; PP. 106-111 (4P.)Article

SMARTER, CHEAPER GEAR IS MOVE VERSATILE.SANTONI A.1975; ELECTRONICS; U.S.A.; DA. 1975; VOL. 48; NO 21; PP. 90-94Article

TEST INSTRUMENTS GAIN SYSTEM FLEXIBILITY FROM IEEE STANDARD INTERFACE.ANDREIEV N.1975; CONTROL ENGNG; U.S.A.; DA. 1975; VOL. 22; NO 11; PP. 44-46Article

AUTOMATED INSPECTION OF ELECTRONIC ASSEMBLIES.HARLOW CA; HENDERSON SE; RAYFIELD DA et al.1975; COMPUTER; U.S.A.; DA. 1975; VOL. 8; NO 4; PP. 36-45; BIBL. 9 REF.Article

HIGH-PERFORMANCE PCB TESTER ALSO ACTS AS DESIGN AID.1974; INSULAT.-CIRCUITS; U.S.A.; DA. 1974; VOL. 20; NO 3; PP. 27-28Article

APPLICATION DE LA METHODE DU RETARD A L'EXPLOSION D'UN FIL, A L'ETUDE DU MECANISME DE COUPURE DU COURANT PAR UN FUSIBLEJAKUBIUK K; SKIBA A.1974; ZESZ. NAUK. POLITECH. GDANSK., ELECTR.; POLSKA; DA. 1974; NO 35; PP. 119-123; ABS. ANGL. RUSSE; BIBL. 4 REF.Article

PROCEDURES FOR PRODUCTION LINE SOLDERABILITY TESTINGBUD PJ.1973; EVAL. ENGNG; U.S.A.; DA. 1973; VOL. 12; NO 4; PP. 18-19Serial Issue

"THE ELECTRONIC INSPECTOR": IN-CIRCUIT COMPONENT TESTING.CROMER EG.1973; ELECTRON. PACKAG. PRODUCT.; U.S.A.; DA. 1973; VOL. 13; NO 12; PP. 38-44 (6P.)Article

GUIDE TO SELECTING RELAY TESTERS. INSTRUMENTS AND CONTROL SYSTEMS STAFF1972; INSTRUM. CONTROL SYST.; U.S.A.; DA. 1972; VOL. 45; NO 9; PP. 91-92; BIBL. 4 REF.Serial Issue

THE PHILOSOPHY OF MULTI-TYPE A.T.E.ATKINSON S.1980; NEW ELECTRON.; ISSN 0047-9624; GBR; DA. 1980; VOL. 13; NO 24; PP. 46-49; 2 P.Article

THE USE OF ELECTRICAL TEST STRUCTURE ARRAYS FOR INTEGRATED CIRCUIT PROCESS EVALUATIONBUEHLER MG.1980; J. ELECTROCHEM. SOC.; ISSN 0013-4651; USA; DA. 1980; VOL. 127; NO 10; PP. 2284-2290; BIBL. 20 REF.Article

CONTROLE DE LA TENEUR EN FLUIDE DANS UN DISPOSITIF D'ESSAIS HYDRAULIQUESTARSHISH MS; VORONENKOV V YU.1978; VEST. MASHINOSTR.; SUN; DA. 1978; VOL. 58; NO 12; PP. 36-38; BIBL. 5 REF.Article

STATE-OF-THE ART SUPPLEMENT: ATE, TEST & MEASURING INSTRUMENTS.1977; NEW ELECTRON.; G.B.; DA. 1977; VOL. 10; NO 22; PP. 65-140 (40P.)Article

COST CONSIDERATIONS FOR SPECIFIC AND MULTIPURPOSE AUTOMATIC CIRCUIT TEST EQUIPMENT.JACKSON P.1975; INSULAT. CIRCUITS; U.S.A.; DA. 1975; VOL. 21; NO 5; PP. 29-32Article